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原位X射线光电子能谱(XPS)

原位X射线光电子能谱(XPS)可进行光照、高温、加气氛,电化学的XPS测试。X光电子能谱分析的基本原理是一定能量的X光照射到样品表面,和待测物质发生作用,可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。

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       项目简介

       可进行光照、高温、加气氛,电化学的XPS测试。

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       常见问题

​​​​​​​       1. XPS谱峰校正标准是什么呢?
​​​​​​​       一般是以C-C峰284.6ev进行校正的,总谱、分谱是不同的测试方法,所有不是一起校正的,只校正分谱数据,总谱不用校正;价带谱VB是以刚出峰的位置为0进行校正的;

​​​​​​​​​​​​​​       2. 单个元素如果测有不同轨道的谱图,定量以哪个为准呢?
​​​​​​​       定量时以元素的特征轨道谱图为准,如果存在多个轨道,切忌重复计算;若不同元素间轨道有重合,一般需要扫一下元素的非特征轨道来计算含量。


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