项目简介

       透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称TEM），是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏，胶片以及感光耦合组件）上显示出来的显微镜。

       常见项目

       场发射透射电镜（TEM）、场发射透射电镜--现场测试/远程视频
       
       结果展示

       普通形貌

       

       高分辨形貌

       

       选取电子衍射SAED

       

       常见问题

       1. TEM制样方法分类？

       粉末样品：直接用分散剂超声分散滴在载网上进行观察；或进行树脂包埋，超薄切片后，转移铜网上进行制样；

       复型技术：常用复型材料为非晶碳膜和各种塑料薄膜，对样品没有损坏；

       化学减薄/双喷减薄：对于大部分金属样品，可以进行化学减薄或双喷减薄；

       离子减薄：对于陶瓷或金属合金合物，无法电解腐蚀，只能用离子减薄；

       聚焦离子束FIB：与电解双喷和离子减薄相比，可通过SEM在线观察下进行定点制样，获得更高质量的TEM样品；

       2. TEM制样时载网的分类，如何选择？

       载网由金属网、支持膜和导电膜组成。

       金属裸网材质有铜、镍、钼、金、铝等；铜网较为常见，如果能谱分析铜元素时，则应该选择其他材质载网；

       支持膜包括：

       （1）方华膜（聚乙烯醇缩甲醛）：纯有机膜，导电性差，电子束下不耐高温或发生电荷积累而产生样品漂移，多用于低电压电镜或生物样品；

       （2）碳支持膜：方华膜和碳膜组成，最为常用，碳膜的存在增加了导热和导电性，但由于碳颗粒本身的衬度问题，在观察样品高分辨形貌时则不合适；

       （3）微栅膜：在碳支持膜上制作些微孔，解决了高分辨观察样品时的背底衬度问题；

       （4）超薄碳膜：使用微栅膜时，棒状或片材可搭载在孔边缘，但纳米级颗粒由于尺寸小于微栅孔，无法搭载，但是碳支持膜衬度又差，在微栅膜上再增加一层超薄碳膜，可使纳米颗粒负载在超薄碳膜上的同时也提高了图像衬度；

       （5）纯碳膜：部分分散剂（氯仿等）会溶解方华膜，则可去除方华膜，即为纯碳膜；

       3. 磁性样品都有什么？

       （1）含铁（Fe）、钴（Co）、镍（Ni）、钆（Gd）等铁磁性元素的氧化物、金属、尖晶石等；

       （2）钕铁硼（NdFeB）/钐钴（SmCo）等稀土永磁材料；

       （3）钐（Sm）、镨（Pr）、钕（Nd）、镝（Dy）、铽（Tb）等稀土元素的磁性助剂。